Webinar  /  24. Mai 2023, 15.00 - 16.00 Uhr

Webinar-Inhalt

Die Zuverlässigkeit von integrierten Schaltkreisen (ICs) und elektronischen Systemen wird immer wichtiger. Dies gilt für viele Anwendungsszenarien, z. B. aus dem Automotivebereich, der Industrie, Medizin, Kommunikation usw.. Design-for-Reliability-Methoden ermöglichen virtuelle Untersuchungen zur Langlebigkeit von Elektronik, um die Entwicklung von zuverlässigen ICs und Systemen zu unterstützen. Dieses Webinar konzentriert sich auf Lösungsansätze für IC-Designer.


Die Webinarsprache ist Englisch.